Название: Рентгенография металлов и полупроводников
Автор: Уманский Я. С.
Издательство: М.: Металлургия
Год: 1969
Формат: pdf
Страниц: 501
Размер: 92,84 МБ
Язык: русский

Рассмотрена методика изучения структуры металлических сплавов и полупроводниковых материалов путем использования дифракции рентгеновских лучей, электронов и нейтронов. Даны методы рентгеновской гамма - дефектоскопии. Освещены свойства рентгеновских и гамма - лучей.
Предназначается в качестве учебного пособия для студентов вузов и может быть полезна инженерам-исследователям, работающим в области технологии металлических сплавов полупроводниковых материалов.