Название: Основы сканирующей зондовой микроскопии
Автор: Миронов В.Л.
Издательство: Техносфера
Серия: Мир физики и техники
Год издания: 2005
Страниц: 140
ISBN: 5-94836-034-2
Формат: PDF
Размер: 19,3 Мб
Качество: хорошее
Язык: русский

Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.