Название: Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Автор: Д. Брандон, У. Каплан
Издательство: Техносфера
Серия: Мир материалов и технологий
Год издания: 2004
Страниц: 384
ISBN: 5-94836-018-0
Формат: DjVu
Размер: 12,6 Мб
Качество: отличное
Язык: русский

Первый учебник на русском языке по современным методам исследования для материаловедения.
Чрезвычайно четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров и студентов, занимающихся изучением и разработкой новых материалов, нанотехнологиями.