On-Wafer Microwave Measurements and De-embedding
- Добавил: harun54
- Дата: 10-08-2017, 08:54
- Комментариев: 0
Название: On-Wafer Microwave Measurements and De-embeddingАвтор: Errikos Lourandakis
Издательство: Artech House
Год: 2016
Формат: PDF
Размер: 6 Мб
Язык: английский / English
This new authoritative resource presents the basics of network analyzer measurement equipment and troubleshooting errors involved in the on-wafer microwave measurement process. This book bridges the gap between theoretical and practical information using real-world practices that address all aspects of on-wafer passive device characterization in the microwave frequency range up to 60GHz. Readers find data and measurements from silicon integrated passive devices fabricated and tested in advance CMOS technologies.
Внимание
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.