Название: Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий
Автор: Горлов М.И., Сергеев В.А.
Издательство: Ульяновск: УлГТУ
Год: 2015
Страниц: 406
ISBN: 978-5-9795-1470-3
Формат: PDF
Размер: 10.6 Мб
Язык: русский

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности.
Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Скачать Горлов М.И., Сергеев В.А. - Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий