Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
- Добавил: Knizhka01
- Дата: 4-10-2024, 19:53
- Комментариев: 0
Название: Рентгеновская структурная диагностика в исследовании приповерхностных слоев монокристаллов
Автор: А.М. Афанасьев, П.А. Александров, Р.М. Имамов
Издательство: Наука
Год издания: 1986
Количество страниц: 97
Язык: русский
Формат: DJVU, PDF
Размер: 10,2 Мб
Изложены основные идеи физики дифракции рентгеновских лучей, направленные на создание методов анализа кристаллической структуры тончайших приповерхностных слоев и границ раздела кристаллов высокой степени совершенства, в первую очередь полупроводниковых кристаллов, являющихся основой современной микроэлектроники.
turbobit
2bay
Внимание
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.