- Добавил: umkaS
- Дата: 13-01-2020, 13:36
- Комментариев: 0
Название: Измерение параметров полупроводниковых материалов и структур
Автор: В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович
Издательство: М.: Радио и связь
Год: 1985
Cтраниц: 264
Формат: pdf
Размер: 12 мб
Язык: русский
Рассмотрены физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, а также освещены вопросы их практической реализации. Анализируются причины возникновения погрешностей, даются рекомендации по ограничению и устранению источников ошибок измерений. Приводятся сведения о контрольно-измерительных средствах лабораторного и промышленного применения и их характеристиках.
Автор: В. В. Батавин, Ю. А. Концевой, Ю. В. Федорович
Издательство: М.: Радио и связь
Год: 1985
Cтраниц: 264
Формат: pdf
Размер: 12 мб
Язык: русский
Рассмотрены физические основы методов измерений электрофизических и структурных параметров полупроводниковых материалов и эпитаксиальных слоев, а также освещены вопросы их практической реализации. Анализируются причины возникновения погрешностей, даются рекомендации по ограничению и устранению источников ошибок измерений. Приводятся сведения о контрольно-измерительных средствах лабораторного и промышленного применения и их характеристиках.