Качество и надежность интегральных микросхем
- Добавил: kotmatros255
- Дата: 5-06-2020, 07:26
- Комментариев: 0

Автор: Козырь И.Я.
Издательство: Высшая школа
Год: 1987
Серия: Микроэлектроника: Учебное пособие для втузов. Книга 5
Формат: pdf
Страниц: 138
Размер: 11,4 Mб
Язык: Русский
В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС.

Внимание
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.