Название: Качество и надежность интегральных микросхем Автор: Козырь И.Я. Издательство: Высшая школа Год: 1987 Серия: Микроэлектроника: Учебное пособие для втузов. Книга 5 Формат: pdf Страниц: 138 Размер: 11,4 Mб Язык: Русский
В пособии приведены сведения об основных понятиях теории и количественных показателях качества и надежности интегральных микросхем; рассмотрены методы контроля качества, расчета и оценки надежности, а также вопросы прогнозирования и повышения показателей качества и надежности ИМС и БИС.
Внимание
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.