Надежность силовых полупроводниковых приборов
- Добавил: umkaS
- Дата: 18-12-2019, 20:30
- Комментариев: 2

Автор: Бардин В.М.
Издательство: М.: Энергия
Год: 1978
Cтраниц: 96
Формат: pdf
Размер: 46 мб
Язык: русский
В книге рассмотрены вопросы надежности силовых полупроводниковых приборов (СПП). В качестве базовых изделий выбраны диоды ВК2-200 и тиристоры T160 (ВКДУ-150). Основное внимание при изложении материала уделено механизмам отказа СПП в наиболее распространенных режимах эксплуатации СПП. Кратко изложены методические вопросы проведения испытаний СПП на надежность и приведены результаты экспериментальных исследований. Книга предназначена для специалистов, занятых как разработкой, так и применением СПП в различных преобразовательных устройствах.
Скачать Бардин В.М. - Надежность силовых полупроводниковых приборов

Внимание
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Уважаемый посетитель, Вы зашли на сайт как незарегистрированный пользователь.
Мы рекомендуем Вам зарегистрироваться либо войти на сайт под своим именем.
Информация
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.
Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.
Комментарии пользователей